RISモードでビルドインniScope測定関数は使用できますか？
ハードウェア: Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5112, Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5122, Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5124
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問題:
RIS（Random Interleaved Sampling）モードでNIデジタイザを使用したいのですが、信号の立ち上がり時間、周波数、ピーク to ピーク電圧を検出するためにビルドイン測定パレットも使用したいです。可能でしょうか？
解決策:
はい、可能です。RISをサポートするNIデジタイザでは測定パレットとともにこの機能を使用することができます。
RISモードで信号を集録し波形測定も行う迅速な方法は"niScope EX Measurement Library.vi"のサンプルを使用することです。このサンプルは、LabVIEWサンプルファインダ（ヘルプ » サンプルを検索）で下記のディレクトリより参照可能です。
ハードウェア入力と出力 » モジュール式計測器 » NI-SCOPE（高速デジタイザ） » 測定
RISモードのサンプルを使用するには、
- 「リアルタイム強制」のチェックをはずします
- 「最小サンプルレート」でデジタイザのRIS未使用時最大レートより大きな値に設定します。
- 「トリガタイプ」でエッジを変更します。RISモードでは即時トリガが利用できません。
VIを実行して、RISモードで信号を集録し、同時に波形測定を算出します。「スカラ測定」で希望の波形測定を選択します。 （メモ：チェックをつけたたまデジタイザのサンプリングレートより高いレートを指定すると、 高サンプルレートと反復信号を使用するには「リアルタイム強制」プロパティをFALSEに設定しますというエラー（エラーコード-1074118530）が発生します)
関連リンク:
添付:
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報告日時: 03/06/2005
最終更新日: 09/21/2011
ドキュメントＩＤ: 3J5E720M