オフセット、異常集録、ノイズ対策

ハードウェア: Multifunction DAQ (MIO)

問題: 集録したデータにオフセットが生じるデータ集録(DAQ)システムがあります。集録したデータにオフセットが生じる現象に対するトラブルシューティング情報がありますか?

解決策: 集録したデータにオフセットが生じる問題に対しては以下の対策があります。

• オフセットエラーはお使いのDAQハードウェアの設定の間違いにより発生する可能性があります。ジャンパーがあるDAQハードウェアの場合、ソフトウェア(お使いのNI-DAQドライバ バージョンにより異なりますが、Measurement&Automationエクスプローラ(以降、MAX))で指定されたジャンパー設定と実際のハードウェアジャンパー設定が合っていることを確認してください。この設定はLabVIEWでの測定変換に影響を及ぼします。他のプログラミング環境に関しては、NI-DAQからの測定値に対し正しい変換を行うようにしてください。詳細は本文下部の関連リンクにあるKnowledgeBase 28MFQGQO「デバイス設定の確認」を参照ください。
• 集録したデータにオフセットが生じた場合は、アナログ・デジタル(A/D)変換器に再校正が必要な場合があります。お客様ご自身でNIデータ集録ハードウェアを校正することができ、校正(DAQデバイスの組み込まれた機能を使用)を行うことによりオフセット問題を完全に解決する可能性もありますのでお試しください。詳細は本文下部の関連リンクにある校正を参照してください。
• 他のすべてのトラブルシューティングを行い、オフセットが生じる現象が解消しない場合は検査と再校正が必要な場合がありますので、サポートリクエストからNIのエンジニアに連絡をしてNIのエンジニアと一緒にトラブルシューティングを行ってください。詳細は本文下部の関連リンクにある「修理サービス」を参照ください。

異常データが集録される（スパイクノイズ等）場合には以下の対策があります。

• オフセットエラーのように、異常データが集録されるのはDAQハードウェアの設定の間違いによって発生する可能性があります。詳細は本文下部の関連リンクにあるKnowledgeBase 28MFQGQO以上のための「デバイスの設定を確認」を参照ください。
• 環境ノイズ、特に長いワイヤ(4.5メートル以上)がtransducersとDAQデバイス(または、SCXIモジュール)の接続に使われている場合は異常データが集録される可能性があります。
• ノイズの発生する環境、もしくは信号調節を行わず微少信号（例：mV電圧の集録）の測定を行う場合はリボンケーブルの代わりにシールドケーブルを使用する必要があります。また、信号(DIFF：差動、RSE：基準化シングルエンド、またはSE：シングルエンド)に対し正しい入力構成を使用しているかを確認してください。詳細は本文下部の関連リンクにあるKnowledgeBase 3L1JBQZ DAQ「デバイスの入力構成」を参照ください。
• 異常データの集録をもたらす他の一般的な間違いはサンプリングレートです。信号の周期より5倍から10倍速い速度で信号のサンプリングをする必要があります。お客様ご自身により最適なサンプリングレートを探す必要があります。異常データの集録はエイリアスによって引き起こされる場合もあります(遅過ぎるサンプリングレートにより発生します)。
• 異常データの集録にはアナログ・デジタル(A/D)変換器に再校正が必要な場合があります。お客様ご自身でNIデータ集録ハードウェアを校正することができ、校正(DAQデバイスに組み込まれた機能を使用)を行うことにより異常なデータ集録の問題を完全に解決する可能性もありますのでお試しください。詳細は本文下部の関連リンクにある校正を参照してください。
• 他のすべてのトラブルシューティングを行い、異常データの集録が解消しない場合は検査と再校正が必要な場合がありますので、サポートリクエストからNIのエンジニアに連絡をしてNIのエンジニアと一緒にトラブルシューティングを行ってください。詳細は本文下部の関連リンクにある「修理サービス」を参照ください。

集録のS/N比が悪い（集録データにノイズが多い）場合は以下の対策があります。

• 長いワイヤ(4.5メートル以上)がtransducersとDAQデバイス(または、SCXIモジュール)の接続に使われている場合はS/N比の悪い集録をもたらす可能性があります。ノイズはシールドケーブルを使わずリボンケーブルケーブルを使用、もしくは信号調節を行わず微少信号（例：mV電圧の集録）を集録する際に発生しがちです。シールドケーブルや信号調節モジュールの情報に関しては、オンラインカタログを参照ください。
  
• 信号(DIFF：差動、RSE：基準化シングルエンド、またはSE：シングルエンド)に正しいアナログ入力モードを使用しているかを確認してください。詳細は本文下部の関連リンクにあるKnowledgeBase 3L1JBQZ DAQ 「デバイスの入力構成」を参照ください。
• データ集録製品は校正間隔として特定の期間（通常1年）の動作を保証する書類と共に出荷されます。
  校正間隔を超えてご利用されているデバイスをお持ちの場合、アナログ・デジタル(A/D)変換器に対し再校正が必要となり集録されたデータが正確でない可能性があります。
  お客様ご自身でNIデータ集録ハードウェアを校正することができ、校正(DAQデバイスに組み込まれた機能を使用)を行うことにより異常なデータ集録の問題を完全に解決する可能性もありますのでお試しください。詳細は本文下部の関連リンクにある校正を参照してください。

関連リンク: 日本ナショナルインスツルメンツ データ集録（DAQ） サポート 日本ナショナルインスツルメンツ 修理サービス 日本ナショナルインスツルメンツ サポート: 校正 KnowledgeBase 28MFQGQO: デバイス設定の確認 KnowledgeBase 3L1JBQZ: DAQデバイスの入力構成

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報告日時: 04/24/2001
最終更新日: 11/10/2005
ドキュメントＩＤ: 28N9I7QO