基于NI 655x的半导体BER测试方法-part II
硬件: Digital I/O (DIO)>>High-Speed Digital I/O
问题:
解答: Route Delay方式
v LabVIEW
与Source Synchronous方式类似,Route Delay方式同样需要准备HWS文件和创建两路生成任务和采集任务,但不需要外部路由Sample Clock和Data Active信号,主要区别有以下两点:
1)生成任务和采集任务的采样时钟源均配置为板载时钟,并指定为相同的采样率;

2)采集任务的开始触发设置为DelayedDataActiveEvent,并使用niHSDIO属性节点DataActiveInternalRouteDelay来直接设置Data Active信号的时延时间,单位为时钟周期,如果RTD数值为小数,例如:RTD=8.5,则属性节点DataActiveInternalRouteDelay配置整数部分,即floor(RTD)= 8,niHSDIO Configure Data Position.VI配置小数部分,即RTD - floor(RTD)= 0.5,即可实现Route Delay方式。
v SignalExpress
SignalExpress可以很方便的实现Route Delay方法,并使用Sweep模式来估算RTD数值。
1)点击DWE软件的运行按钮,便会自动运行SignalExpress,并添加Stimulus-Response任务;
2)在SignalExpress中直接添加Stimulus-Response步骤,在Add Step菜单中,选择Generate Signals->NI-HSDIO Stimulus-Response;

第二步,为NI-HSDIO Stimulus-Response步骤配置Route Delay方式。在Step Setup选板的RTD Compensation中,选择Route Delay(clock cycles)作为RTD Elimination Method,这里的Clock cycles delayed便是RTD数值,修改该数值便可以延时Data Active信号若干周期数;
第三步,为了获取RTD的最优数值,需要添加Sweep步骤。Sweep循环可以不断改变Route Delay数值,记录在不同Route Delay数值下硬件比较的误码数目,从而找到误码为零时的Route Delay数值,作为该DUT的RTD值。
在Sweep步骤的Sweep Configuration选板中,添加Sweepable parameters,选择Route Delay(clock cycles),设置Route Delay的Start和Stop的周期数,以及循环次数(Number of points);
在Sweep Output选板中,添加Outputs of the sweep,选择硬件比较的误码数目(Number of Sample Errors),作为估算RTD的基准参数;
例如,上图中的数值表示在1~10个周期内,每次递增0.5个周期的Route Delay,则运行1次Stimulus-response步骤,记录1个Number of Sample Errors,作为结果输出,当每个Route Delay数值都遍历到,便形成一条误码数目的曲线,其中误码数目为零的位置便是RTD数值。整个SignalExpress程序的运行结果如下图:
如果Route Delay结果并不清晰,可以根据第一次运行的结果修改Start和Stop范围再次Sweep计算。最终获得RTD的估算值约为8.4,便可以将Stimulus-response步骤的Clock cycles delayed,作为RTD时延的数值。
NI 566x系列HSDIO可以利用实时硬件比较功能来组建完整的数字激励-响应测试系统,实现对半导体芯片的自动化BER测试。对于BER的相关测试,或者说,误码产生原因的测试分析,可以采用NI Digitizer(e.g. PXIe-5186)与抖动分析工具包(Jitter Analysis Toolkit)来观察数字波形的眼图等(参考KB 65U4HBG4),对BER做进一步分析。
相关链接: KB 673NJ0F 基于NI 655x的半导体BER测试方法 - part I
http://digital.ni.com/public.nsf/allkb/9C732072559205C286257B240024CFCB?OpenDocument
Bit Error Rate Testing (BERT) Reference Example
http://www.ni.com/white-paper/7938/en
Advanced Features of High-Speed Digital I/O devices: Data Delay
http://www.ni.com/white-paper/7280/en
Advanced Features of High-Speed Digital I/O devices : Hardware Compare
http://www.ni.com/white-paper/7281/en
National Instruments High-Speed Digital ATE and Stimulus Response Features
http://www.ni.com/white-paper/3671/en
KB 65U4HBG4
http://digital.ni.com/public.nsf/allkb/0B20F0575F5F3CFF86257B04003F841C?OpenDocument
附件:
Signal Express.zip
报告日期: 03/04/2013
最近更新: 04/01/2013
文档编号: 6731E00F