Archived: MIO ボードでの外部スキャンクロックの利用方法

This document has been archived and is no longer updated by National Instruments



ハードウェア: Multifunction DAQ (MIO)

問題: あるデバイスから100分の１秒のパルスを発生し、パルス毎にボードの三つのアナログ入力端子からデータを読み取りを考えています。　このパルスは5分間続きます。　この様なデータ集録は出来ますか？

解決策: MIO-16 シリーズのデータ集録ボードは外部スキャンクロックを利用できます。　毎回、チャンネルリストにある全てのチャンネル（入力端子）をスキャンし、サンプリング（データ集録）をします。　例えば、チャンネルリストに３つのチャンネルを設定しますと、スキャン毎に各チャンネルのデータ（３つ）が集録されます。

連結方法は AT-MIO-16, AT-MIO-16F5, AT-MIO-16X, AT-MIO-64F5, 又は NB-MIO-16X の OUT2 端子に外部スキャンクロックを接続します。　（注意：NB-MIO-16 ボードには出来ません。）　各ボードの外部 (EXTERNAL) スキャンクロック信号のタイミング条件を、必ず守って下さい。　E シリーズのボードには、 PFI7/Startscan 端子が外部スキャンクロック信号のデフォルト入力端子とっています、しかし他の PFI 端子を正しく設定しますと同様に利用できます。　その設定方法は E シリーズのマニュアルをご参照下さい。

更に、ソフトウェアで外部スキャンクロック使用の情報をボードに認識させることが必要です。　この設定をしませんとボードは内部のスキャンクロックを利用します。

• NI-DAQ 又は LabWindows/CVI 内では：　DAQ_Config 関数で extConv 変数を 2 に設定します。　他は通用な関数でデータを集録します。
  
  
• LabVIEW 内では：　AI Start VI の 「scan clock source」 端子を 「I/O Connector」 に設定します、又は AI Clock Config VI の 「clock source」 端子を 「I/O connector」 に設定します。

LabVIEW には外部スキャンクロックを利用したデータ集録サンプルプログラムが搭載されています。　LabVIEW のヘルプメニュー内の｢サンプルの探索...」を選択し、ヘルプウインドで「データ集録 (DAQ)≫アナログ入力≫連続アナログ入力（又は「マルチポイント（バッファ型）アナログ入力」）」を選んで、External Scan Clock と表示されていますサンプルを御参考下さい。

LabWindows/CVI にも似ているサンプルプログラムがあります。　CVI ディレクトリ内「samples\daq\ai」のフォルダで「ExtScan」が記入されているファイルを御参考にして下さい。

NI Developer Zone でサンプルプログラムの探索も出来ます、どうぞ御利用下さい。

関連リンク: PCI E シリーズマニュアル（英語）

添付:





報告日時: 01/16/1996
最終更新日: 11/20/2007
ドキュメントＩＤ: 0HFH84BB