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NI Digitizers 에서 서로 다른 Input Impedance가 채널 간의 Signal 지연을 발생 시킵니다.

하드웨어: Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PXI-5186

문제점: National Instruments Digitizer를 한 채널은 50 Ω, 다른 채널은 1 MΩ로 설정해서 참조 트리거를 이용해 수집 중, 두 개의 채널간 약간의 딜레이가 발생합니다. 채널간에 Impedance를 조합해서 사용할 때 예상되는 문제가 있습니까?

솔루션: 네. Impedance를 혼합해서 신호를 측정하게 된다면 발생할 수 있는 문제 입니다. 더 높은 Input Impedance를 가지고 있는 채널 A(예를 들면 1MΩ)는 더 낮은 Input Impedance를 가지고 있는 채널(예를 들면 50Ω)보다 지연된 신호를 기록하게 됩니다.

예를 들어, NI 5186에서 6.25 GS/s의 최대 속도로 샘플링을 하면 채널 0과 채널 1에서는 약 1.5ns 또는 9~10 샘플정도의 지연이 발생합니다. PXIe-5162에서는 기본적으로 800ps정도의 Skew가 발생합니다.

아래의 스크릴 샷을 보면 50Ω 으로 설정한 채널 0과 1MΩ 으로 설정한 채널 1사이의 지연을 확인할 수 있습니다. 수집된 데이터들은 더 높은 Input Impedance의 채널에서 위상 지연을 갖습니다. 각각의 참조 트리거된 신호는 노란색 수직선에서 확인할 수 있습니다.