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하나의 아날로그-디지털 컨버터(ADC)로 여러 아날로그 입력을 가지는 데이터 수집 보드에는 채널을 스캔할 수 있거나, 샘플링 할 채널을 선택할 수 있는 두 개의 클럭이 있습니다.
이 클럭은 채널들이 샘플링 할 때를 결정하기 위해 보드에서 사용됩니다. 스캔이 발생할 때, 사용자에 의해 선택되는 채널들은 샘플링 됩니다. 스캔은 하나의 채널 또는 여러 채널들을 지날 때 얻어지는 샘플로 이루어질 수 있습니다. 스캔 클럭의 주파수는 채널이 샘플링 되는 속도를 결정합니다.
이 클럭은 여러 아날로그 입력을 가지는 보드에 대해 하나의 아날로그 디지털 컨버터를 공유하는 기능을 가능하게 합니다. 스캔이 발생할 때, 변환 클럭은 샘플링 되는 채널들 간에 스위치로 사용됩니다. 이것은 스캔 클럭의 수 배 이상의 큰 채널 클럭의 주파수를 필요로 합니다. 용어 "채널 간 지연"은 스캔하는 동안 여러 채널들을 통해 수집되는 샘플들 사이에 걸리는 시간을 의미합니다.
샘플 클럭은 스캔 목록에 있는 모든 채널로부터 샘플의 수집을 초기화 시킵니다. 변환 클럭은 각각의 채널에 대한 ADC 변환을 수행합니다. 그림 1은 멀티플렉싱 샘플링을 사용하는 디바이스에서 3개의 아날로그 입력 테스크를 나타냅니다.
그림 1 - 3채널일 경우의 샘플 클럭 및 변환 클럭
스캔 클럭 및 채널 클럭은 Traditional NI-DAQ 드라이버에서 이 두 신호를 식별하기 위해 사용되는 이름이였습니다. 이 이름들은 NI DAQmx 드라이버에서는 각각 샘플 클럭과 변환 클럭으로 변경되었습니다.
샘플 클럭 및 변환 클럭에 관한 조금 더 많은 정보는 NI-DAQmx Help에서 찾을 수 있습니다. 이 도움 파일은 드라이버를 설치하게 되면, 시작>>프로그램>>National Instruments >> NI-DAQ에서 찾을 수 있습니다. 추가로, 정보는 LabVIEW Help (Help >> Search the LabVIEW Help)의 NI-DAQmx 핵심 개념 섹션에서 찾을 수 있습니다.
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