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여러가지 원인으로 인해 아날로그 입력 채널에서 예상하지 못했던 값이 들어올 수 있습니다.
멀티플렉스 시스템이 높은 소스 임피던스에 의해 구동된다면, 하나의 채널에서 스캔된 전압값이 다른 스캔된 채널에서도 나타날 수 있습니다
KnowledgeBase 3L8IETLO: How Do I Eliminate Ghosting From My Measurements?를 참고하셔서 높은 소스 임피던스로 인해 생긱는 문제를 해결하세요
스캔되는 채널이 연결이 안 돼어 있는 경우 높은 소스 임피던스로 인한 문제와 비슷한 증상이 나타날 수 있습니다. 채널이 안 돼어 있을 경우에 나는 다른 흔한 증상으로는 charge injection으로 인한 레일에 drifting혹은 floating 증상이 발생하는 경우입니다.
연결되지 않은 채널로 인한 증상은 KnowledgeBase 0HH79DRV: Incorrect Readings when Scanning Unconnected or Open Channels 의 링크를 참조하십시오. 열려있는 SCXI 채널을 스캔할 때 도 문제가 발생할 수 있는데KnowledgeBase 2W3HKQBS: Why Do I Experience Incorrect Reading When Sampling Open SCXI Channels? 를 참조하시면 됩니다.
신호가 DAQ 디바이스와 같은 접지를 사용하지 않는다면 ground loop의 발생 가능성이 있습니다. ground loop은 측정값에 오류를 발생시킬 수 있습니다.
접지와 관련된 문제 해결법은 Developer Zone Tutorial: Field Wiring and Noise Considerations for Analog Signals 의 링크를 참조하십시오
측정된 신호는 주위 환경으로 인해 어쩔수 없이 노이즈나 원치 않는 신호가 포함될 것 입니다. 이러한 원치 않는 노이즈는 주위의 다른 디바이스 혹은 DAQ 디바이스로부터 발생하게 됩니다. 적절한 쉴딩과 연결은 이런 주위 환경 노이즈와 혼선을 줄여줄 것 입니다.
노이즈와 혼선 관련 문제의 해결법은 Developer Zone Tutorial: Field Wiring and Noise Considerations for Analog Signals. 의 링크를 참조하십시오
채널에 과전압이 들어왔다면 혼선을 일으킬 수 있습니다. 과전압은 채널 범위를 벗어나는 신호가 들어오거나 common vode voltage가 디바이스가 허락하는 한계 범위를 넘어갔을때 발생합니다. 스캔시에 채널에 과전압이 들어오게 되면 혼선현상이 나타날 수 있습니다.
과전압에 관해 SCXI Overvoltage Issues 를 참조하십시오.
대부분의 DAQ 디바이스는 적어도 1년, 그 외의 디바이스는 2년에 한 번 교정을 받아야 합니다. 측정 시간때에 따른 온도차도 측정값에 오차를 가져옵니다. 온도값에 따른 오차를 줄이기 위해서 DAQ 디바이스의 자기교정을 실행해줘야 합니다. DAQ디바이스의 교정에 관련해 Calibration Solutions Overview 를 참조하십시오
만약 DAQ 디바이스의 자체 고장이라면 잘못된 입력값이 들어올 것 입니다. 만약 사용자가 E나 M 시리즈 보드를 가지고 있다면 DAQ Diagnostic Utility 를 통해 간단히 고장 증상을 테스트 해 볼 수 있습니다.
그 외 가능성을 가지는 다른 원인을 찾아보려면 Developer Zone Tutorial: Why Do My Analog Inputs Seem to Float 를 참조하십시오.
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