测量数字线上电平变化的时间间隔



硬件: PXI/CompactPCI>>Controllers

问题: 我该如何测量数字线上电平变化的时间间隔?

解答: 为了测量数字线上电平变化的时间间隔,您需要一个NI 653x高速数字设备和一个计数器/定时器设备,例如NI 660x设备。通过将NI 653x设备配置为检测更改采样时钟模式,该设备就会在一条或多条数字线的状态变化时采集数据。当检测到变化时,NI 653x就会在相应的PFI <2..3>或PFI <6..7> (如果您使用的是NI-DAQmx信号命名原则)或REQ管脚(如果您使用的是Traditional NI-DAQ (Legacy)命名原则) 上生成一个脉冲。使用RTSI,您可以将该信号导入计数器的门端。

为了在LabVIEW中使用NI-DAQmx实现这个功能,配置数字输入为检测更改采样时钟模式并导出检测更改事件信号,这样就能利用6602来测量检测更改事件的上升沿间的时间间隔。

为了在LabVIEW中使用Traditional DAQ 实现这个功能,使用RTSI Control VI。关于这个VI的使用帮助和如何将REQ信号导出到RTSI的信息,请参考与该VI相关的帮助(右击»帮助)。例如,如果您使用的是REQ0信号,则VI的输入如下:

 


计数器必须配置为缓冲事件计数类型。计数器对内部时基计数并在门端出现边沿时锁定当前计数值。由于内部时基的频率是已知的,就可以计算出电平变化的时间间隔。


相关链接: Developer Zone Example: National Instruments Digital Time Interval Analyzer Start-Up Kit
Product Reference: NI 6533/6534 Devices for NI-DAQmx Help
Product Reference: NI 653X User Manual for Traditional NI-DAQ, Developer Zone Example: National Instruments Digital Time Interval Analyzer Start-Up Kit
NI 6533/6534 Devices for NI-DAQmx Help
NI 653X User Manual for Traditional NI-DAQ

附件:





报告日期: 12/16/2002
最近更新: 02/03/2009
文档编号: 2SFAL8N1