测量数字线上电平变化的时间间隔
硬件: PXI/CompactPCI>>Controllers
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问题: 我该如何测量数字线上电平变化的时间间隔？
解答: 为了测量数字线上电平变化的时间间隔，您需要一个NI 653x高速数字设备和一个计数器/定时器设备，例如NI 660x设备。通过将NI 653x设备配置为检测更改采样时钟模式，该设备就会在一条或多条数字线的状态变化时采集数据。当检测到变化时，NI 653x就会在相应的PFI <2..3>或PFI <6..7> (如果您使用的是NI-DAQmx信号命名原则)或REQ管脚(如果您使用的是Traditional NI-DAQ (Legacy)命名原则) 上生成一个脉冲。使用RTSI，您可以将该信号导入计数器的门端。
为了在LabVIEW中使用NI-DAQmx实现这个功能，配置数字输入为检测更改采样时钟模式并导出检测更改事件信号，这样就能利用6602来测量检测更改事件的上升沿间的时间间隔。
为了在LabVIEW中使用Traditional DAQ 实现这个功能，使用RTSI Control VI。关于这个VI的使用帮助和如何将REQ信号导出到RTSI的信息，请参考与该VI相关的帮助(右击»帮助)。例如，如果您使用的是REQ0信号，则VI的输入如下：
- 设备: 您的设备号
- 控制代码: 连接
- 板载信号:
0(对于6533上的REQ 0) - 触发线:
0(这代表您将信号发送到哪个RTSI线) - 方向:
发送
计数器必须配置为缓冲事件计数类型。计数器对内部时基计数并在门端出现边沿时锁定当前计数值。由于内部时基的频率是已知的，就可以计算出电平变化的时间间隔。
相关链接: Developer Zone Example: National Instruments Digital Time Interval Analyzer Start-Up Kit
Product Reference: NI 6533/6534 Devices for NI-DAQmx Help
Product Reference: NI 653X User Manual for Traditional NI-DAQ, Developer Zone Example: National Instruments Digital Time Interval Analyzer Start-Up Kit
NI 6533/6534 Devices for NI-DAQmx Help
NI 653X User Manual for Traditional NI-DAQ
附件:
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报告日期: 12/16/2002
最近更新: 02/03/2009
文档编号: 2SFAL8N1