¿Cómo Utilizo Diferentes Tasas de Muestreo Para Múltiples Módulos en un CompactDAQ?

Hardware: CompactDAQ

Problema:
Me gustaría especificar diferentes tasas de muestreo para las entradas analógicas de cada módulo en mi chasis NI CompactDAQ (cDAQ). Todo lo que he intentado resulta en errores o no funciona. ¿Es esto posible?


Solución:
No es posible configurar múltiples tasas de muestreo para una única tarea con el cDAQ-9172, sin embargo esto es posible con un cDAQ-9174/9178. El cDAQ-9172 cuenta con una única fuente de temporización (timing engine) para entradas analógicas. Por lo tanto solo se puede implementar una tarea de entrada análoga y solamente se puede configurar una tasa de muestreo para la tarea, independientemente de la cantidad de módulos que ésta utilice.

Los cDAQ-9174/9178 cuentan con tres timing engines para entradas analógicas y por lo tanto son capaces de manejar tres tareas de entrada analógicas con tasas de muestreo distintos. Estos timing engines se llaman ai, te0 & te1. Una vez que las tres tareas de entrada analógica se encuentran configuradas para correr con tasas de muestreo distintas, aplicarán los siguientes conceptos para los dispositivos cDAQ-9174/9178.

¿Qué hago si quiero varios tiempos de muestreo, inferiores al tiempo de muestreo máximo?
Configure la tarea para correr a la tasa de muestreo más rápida que se necesite, y luego muestree o promedie los datos de las entradas de los otros módulos en el programa para simular una taza de muestreo más lenta.

¿Cuál es tasa de muestreo máxima que se puede obtener?
Para determinar esto, es necesario saber si alguno de los módulos es de tipo "Muestreo Lento"(Slow Sampled). En el siguiente documento hay una lista de todos los módulos de la Serie C y los tipos de muestreo de los mismos: Manuales de Productos: C Series Support in NI-DAQmx (en inglés).

La tasa de muestreo máxima para una tarea será la tasa de muestreo máxima del módulo más lento, que no se considere como un módulo lento (slow module). Los módulos lentos en la tarea simplemente repetirán datos para calzar con la tasa de muestreo de la tarea. Esto deberá tomarse en consideración cuando se haga se haga el análisis en el programa.

Por ejemplo, si se está utilizando un módulo NI 9211 para termopares (tasa de muestreo máxima = 14S/s), un módulo NI 9201 de entradas analógicas (tasa de muestreo máxima = 500kS/s) y un módulo NI 9237 para puente (tasa de muestreo máxima = 50kS/s), la tasa de muestreo máxima para las entradas analógicas del sistema será 50kS/s. El módulo de puente limita la capacidad del NI 9201. El módulo NI 9211 producirá 3572 muestras repetidas (50k/14) por cada muestra tomada de los termopares. Esto deberá tomarse en consideración cuando se haga el análisis de los datos en el programa.

Consideraciones adicionales:

• Si el módulo que determina la tasa de muestreo no es simultáneo, la tasa de muestreo máxima se repartirá entre todos los canales de la tarjeta. Por ejemplo, si la tasa de muestreo utilizada en el módulo de puente se dividiera en 25kS/s por canal, la tasa de muestreo del NI 9201 se limitaría a 25kS/s, no 50kS/s. Además, si un módulo lento tiene entradas simultáneas, no habrá necesidad de dividir la tasa de muestreo entre los canales del módulo. Cada canal será capaz de utilizar la tasa máxima de muestreo, por lo tanto estos continuarían dando la misma cantidad de muestras repetidas, sin importar la cantidad de canales que se utilice.
• Algunos módulos lentos (NI 9219) tendrán tazas de muestreo diferentes para distintos tipos de tareas. Esto será una propiedad de la tasa de muestreo del modulo como tal y se deberá configurar de esta manera (ver el Documento de Soporte 493DGV0E: ¿Cómo Establecer la Tasa de Muestreo del NI-9217/9219?)

Ligas Relacionadas:
Manuales de Productos: NI cDAQ-9172 User Guide and Specifications (en inglés)
Documento de Soporte 43RF2MQ0: ¿Por qué Mi CompactDAQ 9237 No Provee Muestras Debajo de 3.846 kHz?
Documento de Soporte 493DGV0E: ¿Cómo Establecer la Tasa de Muestreo del NI-9217/9219?
Manuales de Productos: C Series Support in NI-DAQmx (en inglés)

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Día del Reporte: 06/08/2015
Última Actualización: 07/03/2015
Identificación del Documento: 4SMGIJMK