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外部クロックを使用したアナログ入力タスクにおいてサンプリングレートが増加した時にエラー-200019が発生するのはなぜですか?
外部クロックを使用したアナログ入力タスクにおいてサンプリングレートが増加した時にエラー-200019が発生するのはなぜですか?
使用ソフトウェア:
使用ソフトウェア・バージョン: 8.2
使用ソフトウェア・バージョンに特化: N/A
二次のソフトウェア: LabVIEW Development Systems>>LabVIEW Base Package
問題: 外部信号をアナログ入力のクロックとして使用しています。サンプリングレートが低い時には問題なく動作していますが、外部クロック信号の周波数を増加させると下記のエラーが表示されてしまいます。
エラー -200019 が次の場所で発生しました: 不明位置
考えられる理由:
Measurements: 前回の変換が完了する前にADC変換が試みられました。
2つのADC変換の間の期間を延長してください。外部クロックを使用している場合は、クロック信号にノイズやグリッチがないか確認してください。
解決策: 基準クロックが外部信号であったとしても、タスクの構成で指定したレートにより、バッファのサイズなどタスクの他のパラメータが決定されます。このエラーを回避するためには、タスクで設定するレートの値を、予想される外部信号の周波数の最大値に設定する必要があります。
タスクタイミング設定のレートのデフォルト値は1000Hzです。レートの値の変更は、以下のいずれかの箇所で可能です。
- Measurement and Automation Explorer (MAX): 構成欄のデータ設定>>NI-DAQmxタスク内にある、作成したDAQmxアナログ入力タスクにおいて、タスク構成ウィンドウのタイミング設定>>レート(Hz)
- DAQアシスタント:MAXと同様に構成ウィンドウのタイミング設定>>レート(Hz)
- DAQmx関数: DAQmxタイミング(サンプルクロック).vi のレート入力端子
- 従来型DAQ: AI集録VIやAIスタートVI等のサンプルレートやスキャンレート入力端子
関連リンク:
添付:
報告日時: 07/23/2005
最終更新日: 06/22/2007
ドキュメントID: 3NMEUHX6
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