TestStand 2016 半导体模块 f1 补丁详细信息

主要软件: TestStand
主要软件版本: 2016
主要软件修正版本: N/A
次要软件: N/A

问题: TestStand 2016 半导体模块 f1 补丁有哪一些更新和修正？

解答:
TestStand 2016半导体模块f1补丁解决了下表中列出的问题。 NI推荐所有TestStand 2016用户安装这个补丁。您可以通过NI更新服务安装该补丁，也可以通过以下下载页面直接下载：

Drivers & Updates: TestStand 2016 Semiconductor Module (32-bit)
Drivers & Updates: TestStand 2016 Semiconductor Module (64-bit)

ID	Description
600508	The TestStand Semiconductor Module fails to call the LabVIEW event callback for the ErrorOccurred event.
598494	Some legacy digital example LabVIEW VIs are not saved in the correct version of LabVIEW.
611229	If you view the per site inputs panel of a Semiconductor Action step followed by a MultiTest step (or vice versa), an error dialog appears.

新功能

• 标准测试数据格式（STDF）日志结果处理插件现在生成硬件仓记录（HBR），软件仓记录（SBR），测试概要记录（TSR）和部件计数记录（PCR）的摘要记录，记录。这些记录包含在STDF日志文件的末尾，并且HEAD_NUM值为255，表示它们是摘要记录。
• 对NI_SemiconductorModule_StandardLotSettings和NI_SemiconductorModule_StandardStationSettings数据类型的新注释指示每个属性在STDF日志文件中的存储位置。
  
  注意：由于此更改，在您安装此修补程序后启动TestStand序列编辑器时，会启动两个“类型冲突”对话框。要解决类型冲突，请选择“使用当前加载的类型”选项用于两种类型冲突，以使用存储在NI_SemiconductorModule_Types.ini类型选项板中的数据类型的版本。

相关链接: Drivers & Updates: TestStand 2016 Semiconductor Module (32-bit) Drivers & Updates: TestStand 2016 Semiconductor Module (64-bit)

附件:





报告日期: 10/24/2016
最近更新: 04/27/2017
文档编号: 7EN881QY