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セルフリセットヒューズに関する追加情報

ハードウェア: Multifunction DAQ (MIO)>>M Series

問題:
誤った接続によって、モジュール、またシャーシや隣接するモジュールが損傷した例がユーザから報告されています。このドキュメントでは、このような問題の対象、検出方法、対処方法について説明します。

解決策:

背景

UL認証セルフリセットヒューズ（リセット可能ヒューズ）は、+5 V補助電源ラインでの短絡が発生した場合の防護措置として多くのNI製品で使用されていますが、長時間に渡る短絡（1000時間以上）には対応していません。これらのヒューズは、一般にPCIボードおよびPXIボードの+5 V補助電源ラインで使用されています。セルフリセットヒューズが使用されたNI製品の一覧は、添付ファイルList of All Affected Products.pdfに記載されています。

製品が+5 V～グランド間の短絡が長時間続いたため破損した例があります。ヒューズの製造元は、セルフリセットヒューズの長時間の短絡状態に耐久しない可能性を提示しています。このような状態は、ヒューズを損傷し、デバイスでのアークや発火の原因となる恐れがあります。

例: NI USB-621xのセルフリセットヒューズの位置

対象

アプリケーションがNIボードの+5 Vラインを使用しない場合、+5 Vラインでの予期しない短絡に気づかない可能性があります。セルフリセットヒューズがトリップしても、ボードの他の部分には影響しない場合があります。短絡の最も一般的な原因は以下のとおりです。

カスタマイズされたテスト装置での使用していない+5 Vピン～グランド間の短絡
端子台またはアクセサリの不正な配線
ケーブルコネクタの+5 Vピンまたはグランド（GND）ピンの歪み

短絡の検出方法

システムの外観と配線図で、NIボードの+5Vピンが使用されているかどうかを確認します。テストシステムでNIボードの+5Vピンが使用されており、システムが正常に動作していれば、短絡の有無を確認する必要はありません。

NIボードの+5Vピンが使用されていない場合は、短絡の有無を確認する必要があります。多くのボードでは+5Vピンが複数あるため、必ずすべてのピンで短絡を確認してください。外観から短絡が見られない場合は、測定を行うことによって確認できます。このような確認は、短絡が目視では確認できないような設計のカスタムテスト装置で特に重要です。

比較的単純なテスト装置は、以下の手順で短絡の有無を確認できます。カスタムテスト装置を設計した場合は、設計をより詳しく検証する必要がある可能性があります。

+5Vノードを測定する―テストシステムに短絡がある場合、+5Vノードは+5Vではありません。+5V～グランド間が短絡している場合、セルフリセットヒューズは「開」状態となり、ノードはグランドとなります。この方法では、テスト装置から+5Vラインにアクセスする必要があります。ボードがシャーシに設置され、電源が投入され、テストシステムに通常通り接続されている場合は、+5Vノードをマルチメータで測定して、+5Vであることを確認します。+5Vではない場合、下記の「短絡が発生している場合の措置」を参照してください。

メモ―NIボードは、必ずテストシステムまたはアクセサリに通常どおり接続したままにしてください。ケーブルの接続を外して+5Vピンをテストすると、既存の短絡がすべて接続解除されるため検出不可能になります。

抵抗を測定する―テストシステムで+5Vノードにアクセスできない場合は、NIボードからケーブルを外して電源とケーブルのグランドピンの間の抵抗を測定します。+5Vを使用していない場合は、結果は開（1 MΩ以上）のはずです。抵抗を測定する前に、テストシステムで+5Vラインが使用されていないことを確認してください。使用されている場合は、結果が開または短絡となりません。

メモ:

ケーブルは、必ずテストシステムまたはアクセサリに通常どおり接続したままにしてください。ケーブルの接続を外して抵抗を測定すると、既存の短絡がすべて接続解除されるため検出不可能になります。
すべての+5Vピンで短絡の有無を確認してください。

短絡が発生している場合の措置

短絡が長期間（1000時間以上）継続している場合は、既にボードが破損しており、安全面でリスクがある可能性があります。このようなボードはすぐに使用を停止してください。ただし、短絡によって他の箇所が損傷していない場合は、ボードが修復可能であることがあります。損傷した製品の修理や交換については、NIまでお問い合わせください。また、ni.com/jp/askでナショナルインスツルメンツに詳細情報をリクエストすることもできます。