板卡使用随即交织采样模式时速度很慢或者出现超时错误

硬件: Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)

问题:

我的板卡在随即交织采样模式下面速度变慢。一般来说随即交织采样是需要采集多个records所以时间会比实时采样的时间长，但是我的板卡要远远比这个慢。有的时候当我设置成高的采样率时，会在我取得数据前返回超时的错误。

解答:

一般的做法是进行仪器的自校准。如果仪器是在温度变化很大（5摄氏度以上）的情况下进行的校准，那么精确度和性能都会受到影响。

通过在工作温度下进行仪器的自校准，许多性能方面的问题都可以校正。自校准对精确测量也有很重要的作用。具体可以参见NI High-Speed Digitizers Help 。

判断仪器是否需要自校准

1.  在启动系统后，使仪器至少预热15分钟。这将使其有足够的时间达到他工作的温度。

2.  打开Measurement and Automation Explorer。

3.  在Devices and Interfaces 中选择 instrument一项。

4.  在面板的右下方选择Calibration tab。

5.  比较仪器的Current Temperature 与其上一次进行自校准的温度。

6. 如果温度差超过5摄氏度，那么就需要进行仪器的自校准。

进行仪器自校准

1.  打开Measurement and Automation Explorer。

2.  在Devices and Interfaces 中选择instrument一项。

3.  右键单击 instrument ，选择Self Calibrate。这个过程会持续几分钟。

 

然后再次运行你的应用程序以判断自校准对仪器性能的提升。如果还存在性能方面的问题，那么很有可能是硬件方面的严重问题。请联系National Instruments technical support 以寻求更多的帮助。

相关链接: Manual: NI High-Speed Digitizers Help

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报告日期: 04/23/2008
最近更新: 12/27/2009
文档编号: 4KMIHJMV