Forum ATE le mardi 28 novembre 2006 au Palais des Congrès de Versailles, de 8h45 à 17h00.
Des conférences techniques ainsi qu'une exposition vous attendent tout au long de la journée.
Voici un apercu du programme des conférences techniques :
Définir les architectures des futurs systèmes de test
Test de cartes électroniques
Architecture logicielle des futurs systèmes de test
Tests fonctionnels, test in situ...
Un déjeuner gratuit vous permettra de rencontrer les autres utilisateurs présents et de discuter avec les exposants.
Parmi les applications présentées, vous trouverez :
un outil de caractérisation et validation pour NI TestStand
la connexion d'un chassis et de cartes de test PXI sur une interface de connexion Virginia Panel pour test en production
des applications PXI pour les signaux mixtes (analogiques et numériques)
un systeme de prototypage rapide sur base CompactRIO
une partie de baie TELMIX pour test de composants micro-electronique
E-mail: ni.france@ni.com 
Tel: 0820 20 04 14 
Fax: 01 48 14 24 14