National Instruments har introduceret ti nye PXI-produkter, der udvider firmaets PXI-baserede portefølje til mixed-signal halvledertest. Den nye NI PXI Semiconductor Suite af softwaredefinerede PXI-instrumenter, der er optimeret til brug sammen med National Instruments grafiske LabVIEW systemdesignsoftware, indeholder fire højhastigheds, digitale I/O (HSDIO) instrumenter, to digitale switchmoduler, to forbedrede RF-instrumenter, et højpræcisions SMU (Source Measure Unit) instrument og et specielt digitalt vektor fil-importværktøj. Den nye PXI Semiconductor Suite er forsynet med talrige nye avancerede funktioner, inkl. 200 MHz single-ended digital I/O, 10 pA strømopløsning, hurtige multiband RF-målinger, DC/digital switching og specielle softwareværktøjer til import af Waveform Generation Language- (WGL) og IEEE 1450 Standard Test Interface Language (STIL) vektor filer.
NI’s PXI Semiconductor Suite forbedrer PXI-platformens test- og måleegenskaber til test af gængse halvlederkredse som f.eks. A/D-konvertere, D/A-konvertere, powermanagement IC’ere, trådløse IC’ere og MEMS-kredse (MikroElektroMekaniske Systemer). På grund af det brede spektrum af avancerede funktioner giver den nye PXI Semiconductor Suite en højere testgennemløbshastighed, en større fleksibilitet og en hurtigere udviklingstid sammenlignet med de traditionelle box-instrumenter og ATE (Automated Test Equipment) løsninger, der ofte anvendes til karakterisering, validering og produktionstest af halvlederkredse.
NI PXIe-654x familien af HSDIO instrumenter indeholder fire nye højhastigheds digitale I/O-moduler, der har single-ended klokhastigheder på op til 200 MHz og datahastigheder på op til 400 Mbit/sek, som gør det muligt for brugeren at teste højhastigheds chipdesigns og indføre hurtigere skræddersyede kommunikationsprotokoller. De avancerede digitale I/O-moduler i denne familie indeholder flere ekstra funktioner som f.eks. tovejs kommunikation, realtids bit-sammenligning, DDR (Double Data Rate) egenskaber, multiple timing-delays for forskellige I/O-linier og mulighed for at vælge blandt 22 forskellige spændingsniveauer – fra 1,2 V til 3,3 V for at give brugeren en øget digital I/O testfleksibilitet.
Det nye single-slot NI PXI-4132 højpræcisions SMU instrument har en strømfølsomhed på ned til 10 pA til strømmålinger, der kræver en høj måleopløsning. PXI-4132 er forsynet med remote (fire-leder) føling og ekstern beskyttelse på et enkelt output, der kan generere DC-spændinger på op til ±100 V. SMU instrumentet er også forsynet med flere andre avancerede funktioner, der blandt andet omfatter en on-board hardwaresekvenseringsfunktion til hardware-tidsstyrede, højhastigheds kurveformer samt mulighed for at trigge og synkronisere multiple PXI-4132 SMU instrumenter over PXI-backplanet.
De nye NI PXI-2515 og NI PXIe-2515 digitale switchmoduler forbedrer suiten af PXI produkter til mixed-signal halvledertest ved at gøre det nemmere for brugeren at multiplexe præcisions DC-instrumentering direkte ud på HSDIO-linier, der er forbundet med den aktuelle chip, der bliver testet. De nye switchmoduler er også udstyret med en forbedret signalopkobling til parametriske målinger og bevarer samtidig en høj signalintegritet på højhastigheds digitale signalkanter.
De nye PXI Express baserede NI PXIe-5663E og NI PXIe-5673E instrumenter er henholdsvis en 6,6 GHz vektor signalanalysator og en 6,6 GHz vektor signalgenerator, der giver en øget målehastighed via hurtige og deterministiske ændringer af RF konfigurationer ved anvendelse af en ny funktion, kaldet RF List Mode, for at reducere den krævede testtid markant. Denne nye funktionalitet gør det muligt for brugeren at downloade prækonfigurerede instrumentparametre for hurtigt at køre gennem forskellige RF konfigurationer. Dette er specielt nyttigt, når man tester RF effektforstærkere og andre RF IC’ere, der kræver verificering af de performancemæssige egenskaber over multiple frekvenser, og gør det samtidig nemmere at udføre multiband RF-målinger betydeligt hurtigere end med traditionelle instrumenter.
PXI Semiconductor Suite indeholder også en softwareløsning til effektiv import af WGL- og STIL baserede digitale vektorformater for at strømline design-til-test integrationen, når man anvender NI’s PXI-baserede højhastigheds digitale I/O-moduler. Den nye TSSI TD-Scan for National Instruments software gør det muligt for halvleder testingeniører at importere WGL- og STIL simuleringsvektorer i PXI-systemer - en opgave, der tidligere krævede udvikling af skræddersyet software. En evalueringsversion af WGL/STIL softwareværktøjet, der understøtter alle NI’s PXI-654x, PXI-655x og PXI-656x serier af HSDIO-moduler, kan hentes på NI’s web-site, www.ni.com. En komplet version af værktøjet kan købes direkte hos den amerikanske producent Test Systems Strategies, Inc. (TSSI).
Brugere, der ønsker mere information om den nye PXI Semiconductor Suite og om, hvordan halvlederproducenter som Analog Devices, Inc. og andre virksomheder anvender PXI-platformen og LabVIEW til at reducere deres chip-testomkostninger, kan besøge ni.com/automatedtest/semiconductor/suite.htm
Spørgsmål?
Har du spørgsmål? Ring til NI Danmark.
 E-mail: ni.denmark@ni.com   Tlf.: +45 4576 2600 |
