日本ナショナルインスツルメンツ株式会社（本社：東京都港区、代表取締役：池田亮太、以下 日本NI）は本日、10種類のPXI製品を新たに製品ラインに加え、ミックスドシグナルICテストでもPXIが利用できるようになったことを発表いたします。このソフトウェア定義型の製品群はNI LabVIEW（グラフィカルシステム設計ソフトウェア）での使用に向けて最適化されています。10種類の製品の中には、高速デジタルI/O（HSDIO）用の計測器が4台、デジタルスイッチが2台、機能が強化されたRF計測器が2台、高精度なソースメジャーユニット（SMU）が1台、デジタルベクターファイルを取り込むための特別なソフトウェアが1種類入っています。このNI PXI Semiconductor Suiteには、200 MHzのシングルエンド型デジタルI/Oや、10 pAの電流分解能、複数帯域の高速RF計測、DC/デジタルスイッチ、波形生成言語（WGL）、IEEE 1450、標準テスト記述言語（STIL: Standard Test Interface Language)ファイルの取り込み機能などが搭載されています。
PXI Semiconductor Suiteでは、多くの半導体コンポーネントで広く採用されているデバイス、例えば、アナログ/デジタル変換器（ADC: analog-to-digital converter）やデジタル/アナログ変換器（DAC: digital-to-analog converter）、パワーマネジメントIC (PMC: power management IC）、ワイヤレスIC (RFIC)、マイクロマシン技術（MEMS: microelectromechanical system)デバイスなどのテストに対応するために、PXIの機能向上が図られています。実に多くの優れた機能を備えた同パッケージは、従来型の箱型計測器や自動テスト装置（ATE)など、上記のような半導体デバイスの評価、検証、製造テストに使用されていたソリューションよりもスループットが高く、柔軟性にも優れ、開発にかかる時間も短く抑えることができます。
Analog Devices社でエバリュエーションエンジニアを務めるDavid Whitley氏は同パッケージについて次のように述べています。「ナショナルインスツルメンツの、ミックスドシグナル対応のPXI計測器パッケージを使用することにより、WGLやSTILベクターフォーマットをPXIに直接取り込んで、ICデザインのデジタルプロトコルやタイミングパラメータの検証が行えるようになりました。PXIとLabVIEWを併用することで、柔軟性に優れたミックスドシグナル対応の評価用プラットフォームとして使用することができ、カスタム仕様のテストを短時間で構築したり、製品の開発にかかる時間や評価にかかる費用を短縮・低減させることが可能となりました。」
高速デジタルI/O発生器/アナライザ
高速デジタルI/O機能を備えたNI PXIe-654xファミリには4つの新しいモジュールがあり、最高200 MHzのシングルエンド型クロックレートと最高400 MHzのデータレートでデジタルI/Oが行えるため、高速チップのデザインテストやこれまでよりも高速のカスタム仕様の通信プロトコルにも対応できます。同ファミリの中でもより高機能なモジュールでは、双方向通信、リアルタイムビット比較、ダブルデータレート（DDR）などの機能が利用できるほか、複数のデジタルI/Oラインに対し複数のタイミング遅延をかけたり、1.2～3.3 Vの間で22種類の電圧レベルが選択可能なため、デジタルI/Oテストがこれまでよりも柔軟に行えるようになっています。これらのデジタルI/Oデバイスが登場したことにより、NI PXI-654xシリーズ、PXI-655xシリーズ、PXI-656xシリーズなどの高速デジタルI/Oデバイスのラインアップが充実し、最大200 MHzのLVDS（低電圧差動信号）にも対応できる、シングルエンド型のPXI計測器が合計で10種類揃うこととなります。
高精度SMU
NI PXI-4132高精度SMUの電流感度は最小10 pAとなっており、高分解能での電流計測に適しています。4線式のリモートセンスを搭載しており、1つの出力チャンネルで外部ガード機能も利用できることから、1つのPXIスロットで±100 Vの出力が可能となっています。同SMUは、ハードウェアタイミングによる高速カーブトレース用にハードウェアシーケンスエンジンを搭載しているほか、PXIバックプレーンで複数のPXI-4132 SMUに対しトリガをかけたり、これらを同期させたりするための機能を搭載しています。PXI-4132 SMUは、既存のNI PXI-4130高出力SMUの機能を補完するものです。PXI-4130は4象限動作、40 W出力（±20 V、±2 A）が可能で、PXIを利用する際の、高精度/高電力ソースメジャー製品として利用できます。
高速デジタル信号挿入スイッチ
2010年初旬に発売予定のNI PXI-2515、NI PXIe-2515デジタルスイッチを使用すると、テスト対象のチップに接続されたHSDIOライン上で高精度なDC計測のマルチプレクスが直接行えるため、PXI製品の利用幅が広がります。また、高速デジタルエッジの信号品位を保ちながら、パラメータ測定用に信号の接続がしやすくなっています。
RFベクトル信号アナライザ/発生器
2010年初旬に発売予定のNI PXIe-5663E (6.6 GHzベクトル信号アナライザ）やNI PXIe-5673E (6.6 GHzベクトル信号発生器）は、RFリストモードと呼ばれる新機能を使ってRF構成の変更時間を短く、かつ確定的にできるため、計測速度が向上し、テストにかかる時間を大幅に短縮することができます。この新機能は、前もって構成しておいた計測器パラメータをハードウェアにダウンロードして、不確定なソフトウェアコールを無くすことにより実現しています。これは、パワーアンプやRFICなど、複数の周波数範囲で性能テストを行う場合に特に有用です。このような追加機能を使用することにより、RFエンジニアは従来の計測器を使用した場合よりもはるかに高速でマルチバンドRF計測が行えるようになります。
TSSI TD-Scan for National Instruments
PXI Semiconductor Suiteの登場により、WGLやSTILなどのデジタルベクターフォーマットを効率よく取り込んでNI PXI高速デジタル製品を使用した場合の設計からテストまでの一連の工程を簡素化することが可能となります。NIがTest Systems Strategies, Inc. (TSSI)社と共同開発したTSSI TD-Scan for National Instruments softwareを使用すると、WGLやSTIL刺激ベクターをPXIシステムに取り込めるようになります。同様のことを行うには、これまで、カスタムソフトウェアを開発する必要がありました。NI PXI-654x、PXI-655x、PXI-656x HSDIOシリーズに対応したWGL/STILソフトウェアツールの評価版は、www.ni.com/highspeeddigitalio/wglstl.htmから入手できます。製品版はTSSIから直接お求めになれます。
PXI Semiconductor Suiteについての詳細、Analog Devices, Inc.などの企業による、PXIやLabVIEWを用いたチップテストのコスト削減事例については、www.ni.com/semiconductor/suite をご確認ください。
【価格（税別）】
NI PXIe-6544 （100 MHz高速デジタルI/O発生器/アナライザ）： 80万9,000円から
NI PXIe-6545 （200 MHz高速デジタルI/O発生器/アナライザ）： 102万9,000円から
NI PXIe-6547 （100 MHz高速デジタルI/O発生器/アナライザ）： 110万3,000円から
NI PXIe-6548 （200 MHz高速デジタルI/O発生器/アナライザ）： 132万3,000円から
NI PXI-4132 （高精度SMU）： 51万5,000円
NI PXI-2515 （高速デジタル信号挿入スイッチ）： 2010年初旬発売予定
NI PXIe-2515 （高速デジタル信号挿入スイッチ）： 2010年初旬発売予定
NI PXIe-5663E （6.6 GHz RFベクトル信号アナライザ）： 2010年初旬発売予定
NI PXIe-5673E （6.6 GHz RFベクトル信号発生器）： 2010年初旬発売予定
TSSI TD-Scan for National Instruments：www.ni.com/highspeeddigitalio/wglstl.htm
Web: www.ni.com/semiconductor/suite
*価格は事前の通知なく変更することがあります。ご了承ください。
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