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怎么在NI Scope的RIS工作模式下使用内嵌的测试功能？

硬件: Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5112, Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5122, Modular Instruments>>High-Speed Digitizers (Scopes)>>PCI-5124

问题: 我希望NI数字化仪在随机交织采样（RIS）工作的同时，使用内嵌的测试托盘，这样可以得到信号的上升时间，频率和信号的振幅峰峰值。可以实现么？

解答: 可以。支持RIS工作的NI数字化仪可以使用包含多个测试内容的托盘。

想要快速地在RIS模式下获取信号并进行波形分析可以参考例子"niScope EX Measurement Library.vi"。这个例子可以在LabVIEW Example Finder(Help >> Find Examples)中找到 ，路径如下：Hardware Input and Output >> Modular Instruments >> NI-SCOPE >> Measurements。想在这个例子中使用RIS模式：
    1) 把"Enforce Realtime"控键改成false
    2) 把"Min. Sample Rate"设定在板卡非RIS工作状态下最小的工作频率以上。
    3) 把"Trigger Type"改成边沿。immediate trigger不能用于RIS模式，
运行VI，你在抓取波形的同时可以得到波形的测试信息。修改"Scalar Measurement"参数来得到你想要的波形测试。

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报告日期: 08/04/2006
最近更新: 08/04/2006
文档编号: 3J5E720M

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