NI 653x 性能测试说明



硬件: Digital I/O (DIO)>>High-Speed Digital I/O>>PCI-6534

问题:
我注意到产品目录册上的性能测试指标值,握手方式的I/O要快于连续模板(Pattern Mode)方式I/O? 为什么?

解答:
产品目录册上的握手方式I/O性能测试指标值是通过突发(burst)方式然后根据平均传输速率测量得到的。突发模式通过设备间信号的握手,以允许任何设备停止传输用于"catch up";。当两种设备都准备好数据传输时,传输达到最高采样率,直到某个设备停下来用于"catch up";。在这段"catch up";时间内,设备和电脑间进行传输。换句话说,设备间的传输只是暂停足够的时间用来完成设备到计算机的传输。

在连续模板I/O方式下,测试性能指标是测量持续的传输速率。模板I/O仅基于恒定的时钟信号。设备没有能力停止传输;因此,时钟必须足够的缓慢使设备能够 ";keep up";而代替";catch up";方式。这意味着时钟沿的时间间隔不能比计算机和设备传输所用时间短。因为并不是每个时钟沿都有传输发生,在时钟沿上会有很多的空闲时间。

因此,突发模式的握手I/O通常比连续模式I/O通常比连续模板I/O性能更好。

相关链接:
Developer Zone Tutorial: Maximizing the Performance of the NI 6534 Digital I/O Device
Product Manuals: 653X User Manual


附件:





报告日期: 05/28/2006
最近更新: 12/18/2007
文档编号: 2UN8EC3J