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アナログ入力に用いたサンプルクロックを外部に出力する方法

ハードウェア: Multifunction DAQ (MIO)

問題: DAQデバイスで内部的に生成されたサンプルクロックをアナログ入力のサンプルクロックに使用しています。
このサンプルクロックを外部に出力したいと考えています。どのように実現可能でしょうか。

解決策: この問題の解決には２つのステップがあります。
１．DAQデバイスがサンプルクロック信号を経路設定できる箇所を確認します。
２．プログラム的に内部サンプルクロックの経路を指定します。

１．多くのDAQデバイスでは、アナログ入力サンプルクロックはPFIラインを通じてアクセス可能です。
どのPFI端子がアナログ入力サンプルクロックに経路設定されているかを確認するには、NI Measurement & Automation Explorer の「デバイス経路」タブをご参照ください。

例えば、このデバイスの場合、アナログ入力サンプルクロックはPFI 3, 4, 7, 8, 9に経路設定可能です。
もし、「デバイス経路」タブ内のパネルの色が黄色ならば、その経路の接続にサブシステムが使用されていることを表します。使用されているサブシステムを確認するには、パネルの上にマウスポインタを配置してください。
一方で、もしパネルの色が緑色ならば、２つの端子間には、サブシステムには存在せず、直接経路があることを意味しています。
この場合、 PFI 7端子がサンプルクロック以外の他の経路に設定可能でないため、サンプルクロックを経路設定するには最も適切な端子になります。

２．PFI ラインを内部的に経路設定するには２つの方法があります。

・従来型NI-DAQ(レガシー): 測定I/O>>データ集録>>キャリブレーションと構成>>信号経路を選択して使用してください。